仪器网

　　【仪器网 日立】 日立经典款荧光分光光度计于2019年10月推出全新附件：荧光分布成像系统(EEM View)。它拥有行业首例的技术，同时分析荧光光谱和反射光谱，将样品的光谱信息可视化，同时获得更加细致的光谱信息。
 

　　为让客户更好的了解这项新技术， “荧光分布成像系统”巡回讲座将于11月15日正式启动，我们将为大家带来：
 

新技术讲座将经过山西、河北、北京、天津、南京、杭州、福州等十几个城市。