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　　【中国仪器网 会展报道】2018年3月30日，中国北京蟹岛会议中心中人潮涌动，北京理化分析测试技术学会北京质谱学会在此召开“2018年度北京质谱年会”。300余位来自高校院所、企事业单位的代表参加了此次会议。
 

 

　　会议为期两日(30日—31日)，主题为“生命与健康”，旨在加强学术交流，了解质谱新技术和交叉学科的新进展，推进质谱技术、色谱与质谱联用技术在分析科学中的发展与应用。会议交流形式包括大会报告、学术沙龙、质谱技术及应用培训。为了推动质谱技术交流与推广，会议将邀请院士和质谱专家作质谱前沿技术与应用新进展报告。期间大会还设置了11个展位，组织质谱厂家进行新产品技术报告及仪器展示，岛津、赛默飞、安捷伦、IONTOF作为赞助企业更是吸引了无数目光。
 

 

　　此次参会的是德国ION TOF驻中国办事处北京艾飞拓科技有限公司，公司致力于材料分析仪器研发与销售，秉承以用户的需求为导向、以的品质为核心、以服务为宗旨，为用户提供科学、合理的解决方案，为各行业的客户服务。公司产品主要包括飞行时间二次离子质谱仪(TOF SIMS)，低能离子散射谱仪(LEIS)，高分辨磁力显微镜(HrMFM)等，并广泛应用于半导体、微电子、材料、化学、医药、生物、冶金、环保、汽车工业等领域。
 

　　在本次会议期间，作为会议的主要赞助商之一，德国ION TOF在会议期间开展了一系列精彩的活动。在新技术报告中，派出了专家Seven Kayser发表质谱前沿技术报告：Hybrid SIMS：A new instrument for high resolution organic imaging with highest mass-resolving power and MS/MS。更通过TOF SIMS 5飞行时间二次离子质谱的亮相，秀出了实力。
 

　　在艾飞拓的展位上，中国仪器网记者先看到的就是这款TOF SIMS 5飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)。它是一种非常灵敏的分析系统，通过对样品表面进行轰击产生的二次离子，可以确定表面元素的构成。
 

　　这款仪器的应用领域非常广泛，可以用于材料表面和表层的化学成份分析。化学元素或化合物在表面和块体材料内部的分布。以及生物组织表面和内部成份和分布分析。包括如半导体、医药、生物、冶金、汽车等领域。对样品的分析，如痕量金属探测、化合物结构测定、原子量测定、同位素标定、失效分析等方面研究应用广泛。许多用XPS，AES等分析不能确定的物质，都可以采用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析。
 

 

TOF SIMS 5
 

　　产品主要特点：
 

　　1、可以并行探测所有元素和化合物，具有极高的传输率，只需要一次轰击就可以得到研究点的完整质量谱图。
 

　　2、可以探测的质量数范围包括10000原子量单位以下的所有材料，包括H, He等元素。
 

　　3、可以分辨同位素。
 

　　4、质量分辨率可以达到10000至15000以上！
 

　　5、具有很小的信息深度(小于1nm)，可以分析材料表层(原子层)的结构。
 

　　6、极高的空间分辨率，对于样品表面的组成结构一目了然。
 

　　7、达到ppm - ppb级的探测极限。
 

　　8、对于化合物，可以同时给出分子离子峰和官能团碎片峰；可以方便的分析出化合物和有机大分子的整体结构。
 

　　9、采用双束离子源可以对样品进行快速深度剖析。
 

　　10、采用的电子中和枪，可以的分析绝缘材料。
 

　　作为德国ION TOF驻中国办事处的北京艾飞拓，售后服务完善、技术水平较高，有北大、中科院等院校高层次人才，具有丰富的SIMS经验。未来必定能够帮助ION TOF将更多仪器提供给国内的科研工作者和企业，并推动我国质谱技术不断向好发展。